- FARHI ép DERRAS Ghania - Etude et caractérisation de la texture et de la microstructure du silicium amorphe déposé en couches minces par DC magnetron Dputtering.

Business Listing - April 01, 2020

- FARHI ép DERRAS Ghania - Etude et caractérisation de la texture et de la microstructure du silicium amorphe déposé en couches minces par DC magnetron Dputtering.

Auteur FARHI ép DERRAS, Ghania Directeur de thèse AOUCHER Moussa (Docteur) Filière Physique Diplôme Doctorat Titre Etude et caractérisation de la texture et de la microstructure du silicium amorphe déposé en couches minces par DC magnetron Dputtering. Statut Vérifié
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