Mémoires de Fin d’Etudes
Etablissement
Université d’Oran1 - Ahmed Ben Bella
Affiliation
Département de Physique
Auteur
MECHEHOUD, Fayçal
Directeur de thèse
HAKIKI Nour Eddine (Professeur)
Co-directeur
BUBENDORFF Jean Luc (Docteur)
Filière
Physique des Matériaux
Diplôme
Magister
Titre
Caractèrisation des Couches Minces par Microscopie En Champ Proche et Spectroscopie Electronique : Application aux Oxydes Formès sur les inconels 600 et 690
Mots clés
Microscopie en champ proche; Microscopie a force atomique AFM;Microscopie a force de kelvin KFM; Microscopie à effet tunnel STM; STS; Inconels.
Résumé
Ce travail, consiste à la caractérisation des couches minces par microscopie en champ proche et spectroscopie électronique, application aux oxydes formés sur les alliages a base de nickel du type inconels 600 et 690. La première partie consiste a l’étude théorique des différentes technique de microscopie en champ proche dont, la microscopie a force atomique (AFM Atomic Force Microscopy), la microscopie a force de kelvin(KFM Kelvin Force Microscopy) et la microscopie à effet tunnel (STM Scanning Tunneling Microscopy).Dans la deuxième partie, on utilisant la microscopie à force atomique on étudie la topographie de surface des échantillons et la taille des grains. Par microscopie a force de kelvin, on a mesuré le potentiel de surface qui nous a permis d’étudier l’efficacité en terme de protection de la couche d’oxyde contre la corrosion et enfin, la microscopie a effet tunnel dans le mode spectroscopique(STS Scanning Tunneling Specrtoscopy) nous a permis de déterminé la largueur de la bande interdite par le tracé des courbes I-V ainsi que la conductance normalisé.
Date de soutenance
2010
Cote
TH3249
Pagination
VII-124F.
Illusatration
ILL. EN COUL
Format
30 cm
Notes
BIBLIOG.110-115F.ANNEXES116-124F.
Statut
Soutenue