Etablissement Université de Boumerdès - M’hamed Bougara Affiliation Département Electrique Auteur Merah, Sidi Mohammed Directeur de thèse

Business Listing - April 01, 2020

Etablissement Université de Boumerdès - M’hamed Bougara Affiliation Département Electrique Auteur Merah, Sidi Mohammed Directeur de thèse

Mémoires de Fin d’Etudes
Etablissement Université de Boumerdès - M’hamed Bougara Affiliation Département Electrique Auteur Merah, Sidi Mohammed Directeur de thèse Nadji Becharia (Professeur) Filière Génie Electrique Diplôme Magister Titre Etude et réalisation d’une bobine d’helmholtz pour l’étude de la fiabilitédes structures MOS Mots clés Oxydation thermique ; MOS (électronique) ; Couche double électrique Résumé Dans ce travail nous avons réalisé une bobine d’Helmholtz qui génère un champ magnétique maximum de 100 Gauss. Le champ magnétique fourni par cette dernière est réglé et contrôlé par un régulateur PID (Proportionnel, Intégral, Drivée)implanté sous LabVIEW. Nous avons utilisé la bobine réalisée pour étudier la dégradation NBTI (NegativeBiasTemperatureInstability) sous différentes intensités du champ magnétique pour un transistor commercial de puissance VDMOSFET (BS108). Des observations intéressantes ont été constatées. Les résultats expérimentaux ont montré que, d’une part, la dégradation engendrée par le NBTI est moins sous l’application d’un champ magnétique et d’autre part, la dynamique de création des pièges change et la relaxation de la dégradation est plus rapide sous l’application d’un champ magnétique. Ces résultats prometteurs peuvent être exploités pour apporter une augmentation de la durée de vie des transistors MOSFET Date de soutenance 2014 Cote 621.3(043.2)/A116/MER Pagination 64 p. Illusatration ill. Format 30 cm Statut Traitée

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