Mémoires de Fin d’Etudes
Etablissement
Université de Biskra - Mohamed Khider
Affiliation
Département de Génie Electrique
Auteur
Seghir, Salah
Directeur de thèse
Sengouga Nouredine (Professeur)
Co-directeur
Bekhouche Khaled (Maitre de conférence)
Filière
Microélectronique
Diplôme
Doctorat
Titre
Caractérisation des défauts dans les semi-conducteurs
Mots clés
Semi-conducteur, Température, Fréquence, DLTS.
Résumé
La qualité des semiconducteurs et les dispositifs électroniques est un facteur crucial dans la conception et la fabrication des circuits électroniques (analogiques et numériques).la caractérisation de ces dispositifs et donc une étape indispensable. Dans ce travail, on est intéressé en premier lieu à la fréquence du signal électronique et la température de l’environnement, parmi d’autres paramètres. L’un des causes de cette sensibilité est la présence des défauts dans le réseau cristallin du semi-conducteur et l’interface entre les différents constituants d’un dispositif à semi-conducteur.
Statut
Validé
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