- Ecole nationale polytechnique d'Oran -Maurice Audin - Département de Génie Electrique - MOUFEK A - EFFET DE LA FRÉQUENCE DES CHAMPS ÉLECTRIQUES OSCILLANTS SUR LA TENSION DE RUPTURE PAR AVALANCHE DES DIODES A SEMI CONDUCTEURS

Business Listing - April 01, 2020

- Ecole nationale polytechnique d'Oran -Maurice Audin - Département de Génie Electrique - MOUFEK A - EFFET DE LA FRÉQUENCE DES CHAMPS ÉLECTRIQUES OSCILLANTS SUR LA TENSION DE RUPTURE PAR AVALANCHE DES DIODES A SEMI CONDUCTEURS

Etablissement Ecole nationale polytechnique d'Oran -Maurice Audin Affiliation Département de Génie Electrique Auteur MOUFEK, A Directeur de thèse M.BENZOHRA Co-directeur MITRA Filière Electronique Diplôme Magister Titre EFFET DE LA FRÉQUENCE DES CHAMPS ÉLECTRIQUES OSCILLANTS SUR LA TENSION DE RUPTURE PAR AVALANCHE DES DIODES A SEMI CONDUCTEURS Mots clés SEMI CONDUCTEURS CHAMPS ÉLECTRIQUES AVALANCHE DES DIODES Résumé En premier lieu l’auteur donne une présentation du travail effectué, il traite ensuite les jonctions p-n, les phénomènes de rupture par effet d’avalanche dans les semis conducteurs, il aborde aussi l’effet de la fréquence sur la tension de rupture dans les semi-conducteurs, les techniques de mesures, tension de rupture en fonction de la fréquence dans le cas des jonctions p-n à profil de distribution abrupt Date de soutenance 1984 Cote TH/04/24 Pagination 146 Format 21/30 Statut Soutenue

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