Auteur
ABDELLAOUI, A
Directeur de thèse
N.SEKKAL
Co-directeur
M.BOUSLAMA (Maitre de conférence)
Filière
Physique
Diplôme
Doctorat
Titre
CARACTÉRISATION PAR SPECTROSCOPIE ÉLECTRONIQUE ET SIMULATION DU BOMBARDEMENT IONIQUE DES SEMI-CONDUCTEURS III-V
Mots clés
SPECTROSCOPIE ÉLECTRONIQUE BOMBARDEMENT
Résumé
L’objectif de notre travail est d’associer les méthodes de simulation numérique à des méthodes de caractérisation ; technique largement répondue pour mieux connaitre toutes les grandeurs physico-chimiques affectées par le bombardement ionique des semi-conducteurs III-V.L’étude à été restreinte à l’analyse de deux semi-conducteurs (InP. InSb).Deux aspects du problème ont retenu notre attention : dans un premier temps , la structure chimique de ces semi-conducteurs a été caractérisée avant et après le bombardement ionique à l’argon et à l’hélium par spectroscopie A.E.S. et E.L.S.
Date de soutenance
2005
Cote
TH/02/43
Pagination
85
Format
21/30
Statut
Soutenue